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JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 335

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 335

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS C5630-1:2017

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions

Die Norm herausgegeben am 21.3.2017

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JIS C5630-12:2014

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Die Norm herausgegeben am 20.2.2014

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JIS C5630-13:2014

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures

Die Norm herausgegeben am 20.2.2014

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JIS C5630-18:2014

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials

Die Norm herausgegeben am 22.12.2014

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JIS C5630-19:2014

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 19: Electronic compasses

Die Norm herausgegeben am 22.12.2014

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JIS C5630-2:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials

Die Norm herausgegeben am 20.3.2009

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JIS C5630-20:2015

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 20: Gyroscopes

Die Norm herausgegeben am 20.11.2015

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JIS C5630-26:2017

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures

Die Norm herausgegeben am 20.10.2017

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JIS C5630-28:2020

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices

Die Norm herausgegeben am 23.3.2020

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JIS C5630-3:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

Die Norm herausgegeben am 20.3.2009

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