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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
NORM herausgegeben am 1.7.2011
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-23:2011-07
Ausgabedatum normen: 1.7.2011
SKU: NS-237812
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
UNGÜLTIG
1.10.2006
UNGÜLTIG
1.5.2014
1.3.2012
1.4.2014
1.6.2012
1.10.2012
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