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DIN EN 60749-29:2012-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.
NORM herausgegeben am 1.1.2012
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-29:2012-01
Ausgabedatum normen: 1.1.2012
SKU: NS-237818
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-29:2012-01 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.
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