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DIN EN 62374:2008-02
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
NORM herausgegeben am 1.2.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 62374:2008-02
Ausgabedatum normen: 1.2.2008
SKU: NS-239814
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN 62374:2008-02 :
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
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