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DIN EN 60749-2:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-2:2003-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-237804
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-2:2003-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.
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