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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-2:2003-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-237804
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.
1.7.2004
UNGÜLTIG
1.6.2011
1.9.2003
UNGÜLTIG
1.9.2003
UNGÜLTIG
1.9.2003
1.1.2011
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Letzte Aktualisierung: 2024-05-01 (Zahl der Positionen: 2 896 514)
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