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ASTM F670-87(1994)e1 Historisch

Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1994

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67.60


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ASTM F671-99 Historisch

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1999

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67.60


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ASTM F672-01 Historisch

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2001

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84.20


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ASTM F672-88(1995)e1 Historisch

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.6.2001

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84.20


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ASTM F673-02 Historisch

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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75.40


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ASTM F673-90(1996)e1 Historisch

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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84.20


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ASTM F674-92(1999) Historisch

Standard Practice for Preparing Silicon for Spreading Resistance Measurements (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1999

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ASTM F675-91 Historisch

Test Method for Measuring Nonequilibrium Transient Photocurrents in P-N Junctions (Withdrawn 1995)

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75.40


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ASTM F676-97 Historisch

Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1993

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67.60


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ASTM F676-97(2003) Historisch

Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current (Withdrawn 2009)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1997

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67.60


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