BS - Britische nationale Normen - Seite Nr. 4205

Normen BS - Britische nationale Normen - Seite Nr. 4205

BSi – die Gesellschaft BSi British Standards ist eine nationale Standardisierungsbehörde in Großbritannien (NSB) und als solche war sie die erste in der Welt. Sie vertritt wirtschaftliche und gesellschaftliche Interessen von Großbritannien in allen europäischen und internationalen Standardisierungsorganisationen auch im Rahmen der Entwicklung neuer Lösungen von betrieblichen Informationen für britische Organisationen aller Größen und Branchen. Die Gesellschaft BSi British Standards arbeitet mit Produktionsindustrie sowie mit Dienstleistungsindustrie, mit Betrieben, Regierungen und Verbrauchern zusammen, um die Bildung der britischen, europäischen und internationalen Normen zu erleichtern. Ein Bestandteil der Organisation BSI Group, die Gesellschaft BSI British Standards, arbeitet mit der Regierung Großbritanniens eng zusammen, insbesondere mittels der Abteilung für Innovationen, Universitäten und Fertigkeiten (DIUS).

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BS EN ISO 6306:2023

Chemical analysis of steel. Order of listing elements in steel standards.

Die Norm herausgegeben am 10.10.2023

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BS EN IEC 63066:2026

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units.

Die Norm herausgegeben am 15.9.2026

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404.80 €


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BS EN IEC 63066:2026-TC

Tracked Changes. Low-voltage docking connectors for removable energy storage units.

Die Norm herausgegeben am 25.9.2026

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567.60 €


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BS EN IEC 63067:2020

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes. Connecting devices. General requirements and tests.

Die Norm herausgegeben am 25.8.2020

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BS IEC 63068-1:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Classification of defects.

Die Norm herausgegeben am 10.5.2019

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BS IEC 63068-2:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection.

Die Norm herausgegeben am 8.2.2019

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BS IEC 63068-3:2020

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using photoluminescence.

Die Norm herausgegeben am 24.7.2020

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BS IEC 63068-4:2022

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence.

Die Norm herausgegeben am 7.9.2022

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BS IEC 63068-5:2026

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using X-ray topography.

Die Norm herausgegeben am 13.10.2026

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316.30 €


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BS 6307:1982

Method for determination of the effects of a small source of ignition on textile floor coverings (methenamine tablet test).

Die Norm herausgegeben am 29.10.1982

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165.10 €


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