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DIN – ist geschützte Bezeichnung der deutschen nationalen technischen Normen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2002
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine-Model (MM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2005
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2007
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2011
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2003
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2012
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2002
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2004
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2009
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2003
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2024-05-02 (Zahl der Positionen: 2 896 910)
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