Normen DIN - Deutsche nationale Normen - Seite Nr. 16515

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2012

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2018

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2024

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2009

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2017