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Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests
Die Norm herausgegeben am 23.5.2002
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-3: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Manufacturers´ self-audit checklist and report
Die Norm herausgegeben am 17.5.2002
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-4: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Blank detail specification
Die Norm herausgegeben am 17.5.2002
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Integrated circuits, Part 23-5: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Procedure for qualification approval
Die Norm herausgegeben am 3.10.2003
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits - Section one: Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
(Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres - Troisieme partie: Circuits integres analogiques - Section un: Specification particuliere cadre pour les amplificateurs operationnels integres monolithiques)
Die Norm herausgegeben am 2.8.1991
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 3: Circuits integres analogiques)
Die Norm herausgegeben am 1.1.1986
Ausgewählte Ausführung:
Amendment 1 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)
Änderung herausgegeben am 15.11.1991
Ausgewählte Ausführung:
Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)
Änderung herausgegeben am 8.2.1994
Ausgewählte Ausführung:
Corrigendum 1 to Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Corrigendum 1 a l´amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)
Korrektur herausgegeben am 11.6.1996
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface - Section 1: Specification particuliere cadre pour les convertisseurs lineaires numeriques-analogiques)
Die Norm herausgegeben am 11.11.1993
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-07-15 (Zahl der Positionen: 2 287 995)
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