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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Die Norm herausgegeben am 22.2.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Die Norm herausgegeben am 20.3.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Die Norm herausgegeben am 23.4.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Die Norm herausgegeben am 23.8.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Die Norm herausgegeben am 7.6.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Die Norm herausgegeben am 25.11.2025
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Die Norm herausgegeben am 13.7.2011
Ausgewählte Ausführung:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Korrektur herausgegeben am 8.3.2012
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphones
Die Norm herausgegeben am 29.4.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Die Norm herausgegeben am 4.3.2026
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-09-29 (Zahl der Positionen: 2 303 433)
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