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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Die Norm herausgegeben am 3.9.2021
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)
Die Norm herausgegeben am 15.6.2021
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Die Norm herausgegeben am 16.9.2022
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Die Norm herausgegeben am 19.3.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Die Norm herausgegeben am 22.2.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Die Norm herausgegeben am 20.3.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Die Norm herausgegeben am 23.4.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Die Norm herausgegeben am 23.8.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Die Norm herausgegeben am 7.6.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Die Norm herausgegeben am 25.11.2025
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-07-12 (Zahl der Positionen: 2 286 472)
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