IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 133

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 133

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

Preisanzeige: ohne MWS
Angezeigte Währung:
Ordnen nach:

Die Auswahl für "Normen IEC - Seite Nr. 133" präzisieren nach:    


IEC 60191-6-2-ed.1.0/Cor.1 Korrektur

Corrigendum 1 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages

Korrektur herausgegeben am 18.10.2002

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
1.30


AUF LAGER
IEC 60191-6-20-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-20: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers pour dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers a sortie en J (SOJ) de faible encombrement)

Die Norm herausgegeben am 30.8.2010

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
51.50


AUF LAGER
IEC 60191-6-21-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-21: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline packages (SOP)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducters - Partie 6-21: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers pour dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers de faible encombrement (SOP))

Die Norm herausgegeben am 30.8.2010

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
103.00


AUF LAGER
IEC 60191-6-22-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-22: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball Grid Array and Silicon Fine-pitch Land Grid Array (S-FBGA and S-FLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-22: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes et a pas fins en silicium et boitiers matriciels a zone de contact plate et a pas fins en silicium (S-FBGA et S-FLGA))

Die Norm herausgegeben am 11.12.2012

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
148.10


AUF LAGER
IEC 60191-6-3-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-3: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Methodes de mesure pour les boitiers plats quadrangulaires (QFP))

Die Norm herausgegeben am 29.9.2000

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
148.10


AUF LAGER
IEC 60191-6-4-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-4: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers matriciels a billes (BGA))

Die Norm herausgegeben am 11.6.2003

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
103.00


AUF LAGER
IEC 60191-6-5-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-5: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for fine-pitch ball grid array (FBGA)

Die Norm herausgegeben am 27.8.2001

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
51.50


AUF LAGER
IEC 60191-6-6-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for fine pitch land grid array (FLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-6: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Guide de conception des dispositifs FLGA)

Die Norm herausgegeben am 22.3.2001

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
103.00


AUF LAGER
IEC 60191-6-8-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-8: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-8: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Guide de conception pour les boitiers plats quadrangulaires en ceramique, scellement verre (G-QFP))

Die Norm herausgegeben am 27.8.2001

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
51.50


AUF LAGER
IEC 60191-6-ed.3.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
(Normalisation mecanique des dispositifs a semi-conducteurs - Partie 6: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers pour dispositifs a semi-conducteurs pour montage en surface)

Die Norm herausgegeben am 26.11.2009

Ausgewählte Ausführung:

Alle technischen Informationen anzeigen
322.00


AUF LAGER

Angezeigter Eintrag von 1320 bis 1330 aus gesamt 11171 Einträgen.


Brauchen Sie Hilfe?


Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.