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Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 392

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC 60749-15-ed.3.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 15: Resistance a la temperature de brasage pour dispositifs par trous traversants)

Die Norm herausgegeben am 14.7.2020

Ausgewählte Ausführung:

Englisch und Französisch -

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50.90 €

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IEC 60749-15-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Die Norm herausgegeben am 14.7.2020

Ausgewählte Ausführung:

Englisch -

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IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 16: Detection de bruit d´impact de particules (PIND))

Die Norm herausgegeben am 17.1.2003

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Spanisch -

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IEC 60749-17-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons)

Die Norm herausgegeben am 28.3.2019

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Englisch und Französisch -

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IEC 60749-18-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale))

Die Norm herausgegeben am 10.4.2019

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IEC 60749-18-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Die Norm herausgegeben am 10.4.2019

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Englisch -

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IEC 60749-19-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Die Norm herausgegeben am 13.2.2003

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Spanisch -

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Ansicht IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 28.7.2010

IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Änderung herausgegeben am 28.7.2010

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IEC 60749-19-ed.1.1+Amd.1-CSV

Die Norm herausgegeben am 29.11.2010

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IEC 60749-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)

Die Norm herausgegeben am 12.4.2002

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