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Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 399

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC 60749-41-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 41: Methodes d’essai normalisees pour la fiabilite des dispositifs a memoire non volatile)

Die Norm herausgegeben am 22.7.2020

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IEC 60749-42-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 42: Stockage de temperature et d´humidite)

Die Norm herausgegeben am 12.8.2014

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IEC 60749-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 44: Methode d´essai des effets d´un evenement isole (SEE) irradie par un faisceau de neutrons pour des dispositifs a semiconducteurs)

Die Norm herausgegeben am 21.7.2016

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IEC 60749-5-ed.3.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de duree de vie sous temperature et humidite avec polarisation)

Die Norm herausgegeben am 19.12.2023

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IEC 60749-5-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Die Norm herausgegeben am 19.12.2023

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IEC 60749-6-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 6: Stockage a haute temperature)

Die Norm herausgegeben am 3.3.2017

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IEC 60749-7-ed.3.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidite interne et analyse des autres gaz residuels)

Die Norm herausgegeben am 27.11.2025

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IEC 60749-8-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Die Norm herausgegeben am 30.8.2002

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Ansicht IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.1 23.4.2003

IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.1 Korrektur

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Korrektur herausgegeben am 23.4.2003

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Ansicht IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2 12.8.2003

IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2 Korrektur

Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Korrektur herausgegeben am 12.8.2003

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