Die Norm DIN EN 62047-21:2015-04 1.4.2015 Ansicht

DIN EN 62047-21:2015-04

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.



NORM herausgegeben am 1.4.2015


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis85.80 ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 62047-21:2015-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2015
SKU: NS-583027
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 62047-21:2015-04 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.

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