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Ansicht IEC 60749-12-ed.2.0 13.12.2017
IEC 60749-12-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, frequences variables)

Die Norm herausgegeben am 13.12.2017

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Ansicht IEC 60749-13-ed.2.0 15.2.2018
IEC 60749-13-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
(Dispositifs a seminconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphere saline)

Die Norm herausgegeben am 15.2.2018

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Ansicht IEC 60749-14-ed.1.0 7.8.2003
IEC 60749-14-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 14: Robustesse des sorties (integrite des connexions))

Die Norm herausgegeben am 7.8.2003

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Ansicht IEC 60749-15-ed.3.0 14.7.2020
IEC 60749-15-ed.3.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 15: Resistance a la temperature de brasage pour dispositifs par trous traversants)

Die Norm herausgegeben am 14.7.2020

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Ansicht IEC 60749-15-ed.3.0-RLV 14.7.2020
IEC 60749-15-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Die Norm herausgegeben am 14.7.2020

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Ansicht IEC 60749-16-ed.1.0 17.1.2003
IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 16: Detection de bruit d´impact de particules (PIND))

Die Norm herausgegeben am 17.1.2003

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Ansicht IEC 60749-17-ed.2.0 28.3.2019
IEC 60749-17-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons)

Die Norm herausgegeben am 28.3.2019

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Ansicht IEC 60749-18-ed.2.0 10.4.2019
IEC 60749-18-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale))

Die Norm herausgegeben am 10.4.2019

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Ansicht IEC 60749-18-ed.2.0-RLV 10.4.2019
IEC 60749-18-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Die Norm herausgegeben am 10.4.2019

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Ansicht IEC 60749-19-ed.1.0 13.2.2003
IEC 60749-19-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Die Norm herausgegeben am 13.2.2003

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